Medalist SJ50 Series 3使检测时间缩短了50%，提高了系统分辨率--
 
    (北京，2006年9月26日) －安捷伦科技公司(NYSE: A)日前推出安捷伦Medalist SJ50 Series 3自动光学检测系统 (AOI)，这一系统采用独特的成像链和强大的检测算法，是业内最优秀的AOI。

    新推出的SJ50 Series 3扩大了现有的SJ50产品系列，提供了业内领先的光学性能。它改善了简便易用性、提高了检测速度，吞吐量、元件定位和支持能力，使得制造商能够处理各种新兴制造工艺技术，如01005元件。由于这些改进功能，制造商能够以更好的功能和分辨率跟上日益提高的线路速率。

    “安捷伦Medalist SJ50 Series 3是一种经济、快速、简便易用、高度可靠的成像平台，提供了可以灵活部署的全面覆盖范围。”安捷伦AOI市场经理Bernadette Duffy说，“与用牺牲质量换低成本价格的其它AOI解决方案不同，我们的解决方案通过同类一流的技术，以一致的方式提供了富有经济效益的增长能力，同时有我们的全球服务和支持团队作为后盾，不管何时何地，都致力于满足客户的产品系列需求。”

    除通过加快产品开发周期和经济性帮助制造商改善利润外，SJ50 Series 3还提供了进一步增强功能，帮助制造商迎接新出现的技术挑战。例如，低对比度元件给整个行业带来了检测问题。SJ50 Series 3 系统中包括的算法为低对比度元件带来了更好的成像清晰度，为最终用户提供了更好的缺陷分析能力。这种成像清晰度降低了假缺陷报警率，改善了缺陷检测能力。

    安捷伦Medalist SJ5

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