斜率

双色辐射仪的两个光谱带的发生率之比。短波长带的发射率除以长波长带的发生率。斜率可以大于、等于或小于 1。斜率说明在物质中发射率随波长变化。

滤谱器

用于通过光谱限制辐射能量到达仪器探测器的传输过程的一种光学或红外元器件。

光谱响应

红外温度计感应的波长区域。

光点

进行温度确定的目标相关区域的直径。光点由目标处的圆孔来确定。通过圆孔，仪器通常可以收集目标红外能量的 90%。另请参见“源尺寸效应”。

停滞或滞后

目标从视场移除后仪器信号持续超过响应时间的一种饱和效应。可能是因为将传感器暴露于高温目标的时间过长。效应表现为对传感器所需响应时间的增加可恢复至正确读数的 5% 范围以内。

储存温度

仪器可在非工作“Range”(范围)模式中存放而且在工作时按照规格执行的环境温度范围。

T　　目标

确定温度的目标。

目标尺寸效应

请参见“源尺寸效应”。

Teflon®

Teflon® 是 DuPont 的品牌名和注册商标。

温度

目标热接触另一个目标时确定热量流向的目标属性(例如，热量从高温区流向低温区)。

温度系数

仪器随其校准环境温度的变化而发生的准确度变化。通常表现为每次环境温度变化，精确度均按百分比变化(或其他程度的误差)。对于环境状况发生迅速变化，请参见“热冲击”。

温度分辨率

给出可用的输出和/或指标变化的目标温度

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