Fluke Ti 20 热成像仪 技术指标
热参数	探测器类型：	硅探测器，非制冷焦平面
	准确度：	±2% 或 ±2?C（取大者）
	准确度（-10 至 0 C）：	+/- 3?C
	重复性：	±1% 或 ±1?C（取大者）
	NETD：	200 mK
	温度显示分辨率：	0.1 ?C
光学/红外	光谱范围：	7.5-14 微米
	目标瞄准：	单波长激光点（符合 lEC 2 类及 FDA II 类要求）
	光学分辨率：	75:01:00
	测量圆点最小直径：	8.1 mm（距离为 61cm 时）
	视场 （FOV）：	20? 水平 x 15? 垂直
控制	焦点：	可聚焦，15 cm 至无穷远
	温标：	可选择 ?C
	色板：	灰色、反灰色、蓝红、铁红、彩虹、热金属、高对比度、蓝红、经色、琥珀色
	测量模式：	可选择自动或手动
	激光开/关：	随附
	增益控制：	随附
	级别控制：	随附
	LCD 背光：	可选择亮或暗
操作	可调辐射系数：	0.10 至 1.00，步长 0.01
	液晶显示：	TFT 技术，适于室内及室外使用，70.5 mm x 53.5 mm
	反射背景温度：	-50 至 905?C
	操作环境温度：	-10 至 50?C
	相对湿度：	10 至 90% 不结露
	存放温度：	-25 至 70?C [不带电池]
	存储能力：	100 张图像
	激光开启图标：	随附
	电池电量不足图标：	随附
	测量模式图标：	随附
	热分析软件：	InsideIR（随附）
	PC 软件操作系统：	Microsoft? Windows 2000? 或 Windows XP?
电气	电源：	充电电池组（随附）
	电池寿命：	至少连续使用 3 小时
	数据传输：	USB 接口，50 幅图像的总传输时间仅为 25 秒
	存储设备：	快速存储器
其它	三脚架（6.35 mm （1/4） 20 统一标准螺纹）
	重量（包括电池）：	1.2 kg
	保修：	1 年
	产地：	美国
	撞击防护：	半正弦波，11 ms，30 g 峰值，符合 mil-prf-28800f
	振动防护：
	- 随机	6G
	EMC：	EN 61326-1