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基于CPLD的容错存储器的设计实现
作者:全球MRO综合服务商    仪器仪表技术文章来源:全球MRO仪器仪表交易网    点击数:    更新时间:2006-10-11

含有奇数个1,且无相同列。

(2)总的1的个数少,所以校验位、伴随式生成表达式中的半加项数少,从而生成逻辑所需的半加器少,可以节约器材、降低成本和提高可靠性。

(3)每行中1的个数尽量相等或接近某个平均值,这种决定生成逻辑及其级数的一致性,不仅译码速度快,同时线路匀称。

应用中采用(13,8,4)最佳奇权码,数据码为(d7 d6 d5 d4 d3 d2 d1 d0),校验码为(c4 c3 c2 c1 c0),P矩阵和编码规则分别为:

译码时把数据再次编码所得到的新校验位与原校验位模2加,便得到伴随式S,由其可判别错误类型:
1)若S=0,则认为没有错误;

(2)若S≠0,且S含有奇数个1,则认为产生了单位错;若S≠0,且S含有偶数个1,则认为产生了2位错。

因此,错误图样S=[s 0  s 1  s 2  s 3  s 4 ]与产生的错误一一对应,从而实现纠一检二功能。

2 存储器容错芯片设计实现

2.1 存储器设计实现方案

(1)备份行(或列)方案

这种方案是在存储芯片的设计与制造过程中增加若干备份的行(或列)。在芯片测试时,若发现失效的行(或列),则通过激光(或电学)的处理,用备份行(或列)去代替。此方法的优点是设计简单,管芯面积增加较少,电路速度没有损失。但是,他

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